1、核心技術(shù) ---- 掃描識(shí)別技術(shù)  

  掃描識(shí)別技術(shù)之所以被稱為網(wǎng)上閱卷系統(tǒng)的核心技術(shù)，一方面是因?yàn)樗鼜母旧蠜Q定了系統(tǒng)功能及性能的優(yōu)劣；另一方面是因?yàn)樗哂休^高的技術(shù)門檻，非一般廠家或人員所能輕易攻克。

  目前，應(yīng)用于網(wǎng)上閱卷系統(tǒng)的掃描識(shí)別技術(shù)分為固定定位識(shí)別技術(shù)、相對(duì)定位識(shí)別技術(shù)與“無需定位，模糊識(shí)別技術(shù)”三種。前兩種相對(duì)容易，可供借鑒的較多，但以此技術(shù)設(shè)計(jì)的產(chǎn)品存在較多的弊端；后者難度較高，需要深厚的技術(shù)功底才能掌握，但以其設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，相對(duì)于定位識(shí)別技術(shù)產(chǎn)品而言具有很大的優(yōu)勢(shì)。兩者的主要差異見下表： 

     比較項(xiàng)目名稱  無需定位、模糊識(shí)別技術(shù)  固定定位或相對(duì)定位技術(shù) 

 答卷設(shè)計(jì)與制作要求  常用軟件+普通紙+速印機(jī)即可  相同條件下的操作復(fù)雜性較高 

 識(shí)別效率及其準(zhǔn)確性  識(shí)別效率高，準(zhǔn)確率高達(dá)表  識(shí)別效率低，準(zhǔn)確性難以確定 

 系統(tǒng)查錯(cuò)與糾錯(cuò)能力  出錯(cuò)率低，查錯(cuò)與糾錯(cuò)能力強(qiáng)  錯(cuò)誤率高，差錯(cuò)與糾錯(cuò)能力弱 

 系統(tǒng)的環(huán)境適應(yīng)能力  圖像小，可適應(yīng)任何網(wǎng)絡(luò)環(huán)境  圖像大，不能實(shí)現(xiàn)互聯(lián)網(wǎng)閱卷

※以上僅為便于理解所做的比較，任何廠家或人員請(qǐng)勿對(duì)號(hào)入座。

  2、關(guān)鍵功能 ---- 分析評(píng)價(jià)功能  

  對(duì)教育局及學(xué)校而言，應(yīng)用網(wǎng)上閱卷系統(tǒng)的主要目的不外乎兩個(gè)方面：一是為教學(xué)診斷和針對(duì)性教學(xué)提供科學(xué)依據(jù)；二是為減輕教師負(fù)擔(dān)，節(jié)省考試成本提供現(xiàn)代化手段。相對(duì)而言，前者更受人們重視，因?yàn)殡x開了教學(xué)質(zhì)量后都將變得毫無意義。但要實(shí)現(xiàn)科學(xué)的教學(xué)診斷和有針對(duì)性的教學(xué)，達(dá)到提高教學(xué)質(zhì)量的目的，對(duì)考試閱卷結(jié)果的科學(xué)處理與分析尤為重要，因此，統(tǒng)計(jì)分析與評(píng)價(jià)就成為網(wǎng)上閱卷系統(tǒng)的關(guān)鍵功能。

  衡量網(wǎng)上閱卷系統(tǒng)的分析與評(píng)價(jià)功能優(yōu)劣，可結(jié)合如下因素考慮：

  （1）統(tǒng)計(jì)指標(biāo)與分析報(bào)表是否符合《教育測(cè)量學(xué)》、《教育統(tǒng)計(jì)學(xué)》與《教育評(píng)價(jià)學(xué)》的原理？

  （2）系統(tǒng)提供的統(tǒng)計(jì)指標(biāo)及算法是否符合教學(xué)實(shí)際需要，其所生成的分析報(bào)表是否滿足教學(xué)要求？

  （3） 統(tǒng)計(jì)指標(biāo)及報(bào)表的選擇是否靈活，擴(kuò)展性是否良好，操作是否簡(jiǎn)單、方便等。